局部放電的識(shí)別最早于1777年由Lightenberg在一次聚會(huì)上的報(bào)告所提及。他第一次利用圖形演示出了電介質(zhì)表面放電的放電通道。
在正極加電壓的微粒圖形(左)、在負(fù)極加電壓的微粒圖形(右)，由Lichtemberg在1777年制作
隨著對(duì)局部放電研究的日漸深入，目前在GIS的實(shí)際生產(chǎn)制造和運(yùn)行檢測(cè)中運(yùn)用比較廣泛的局部放電檢測(cè)技術(shù)主要是常規(guī)電測(cè)法，超聲波檢測(cè)法和超高頻檢測(cè)法。常規(guī)脈沖電測(cè)法在技術(shù)上最為成熟，應(yīng)用較早，已經(jīng)形成了專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（IEC-60270和GB/T7354）。而超聲波檢測(cè)技術(shù)和超高頻檢測(cè)技術(shù)在近年來(lái)發(fā)展迅速，雖然沒(méi)有形成專門的標(biāo)準(zhǔn)，但作為局部放電的有效檢測(cè)手段也在逐漸被人們接受和認(rèn)可。由于這兩種方法的適用性和局限性有所不同，它們都經(jīng)歷了各自不同的發(fā)展過(guò)程，下面將簡(jiǎn)單介紹一下它們的研究發(fā)展現(xiàn)狀。
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