根據(jù)理論分析得知，TEV有可能是由于局部放電引起的電磁波從開關(guān)柜不連續(xù)處泄露而形成。為了驗證其理論的正確性，首先對無縫情況時的TEV傳播過程進行了仿真，其結(jié)果如下圖所示。
無縫情況下TEV傳播過程
上圖所示為無縫情況下TEV信號在開關(guān)柜內(nèi)的傳播過程，TEV信號以放電源為中心向四周輻射，明顯穿透了開關(guān)柜金屬外殼，不過理論上金屬對電磁信號有很強的屏蔽作用，為了得知電磁信號是否被屏蔽，通過檢測探針在開關(guān)柜模型金屬殼外表面測量到的信號強度如下圖所示。
無縫時TEV信號強度
無縫時的TEV信號仿真結(jié)果最大值為6e-9V/mm，接近于0，由此可見，開關(guān)柜殼體對TEV信號產(chǎn)生的金屬屏蔽作用明顯，TEV信號以穿透金屬為傳播路徑的可能性很小。
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