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紫外線檢測法

發(fā)布時(shí)間:2020-08-10 02:21:30人氣:

對局部放電過程中產(chǎn)生的光輻射進(jìn)行測量可以己達(dá)到對局部放電定性、定位的目標(biāo)。光測法一般分為可見光檢測法和紫外線檢測法。

(一)光輻射的產(chǎn)生:

光輻射主要是在粒子(原子、離子或分子)從激勵(lì)狀態(tài)(高能級)恢復(fù)到基態(tài)(低能級)過程(稱為電子躍遷),或正、負(fù)離子與電子的復(fù)合過程中產(chǎn)生。

對局部放電釋放的光波內(nèi)包括紫外、可見光、紅外三個(gè)譜段。
電磁波譜
電磁波譜
不同成因的局部放電所釋放出的光波波長不同,其中波長在500-700nm之間的光輻射在可見光范圍內(nèi),由于與日光可見光部分有重疊因此進(jìn)行檢測所采用的光傳感器需要避開日光干擾,需要配置相應(yīng)的遮光設(shè)備,或在設(shè)計(jì)制造過程中己將傳感器預(yù)裝在密封設(shè)備中,在GIS組合電器設(shè)備中有使用??梢姽鈾z測裝置在采集到光輻射后經(jīng)光電轉(zhuǎn)換,生成檢測結(jié)果,再結(jié)合局部放電光譜的特性可以實(shí)現(xiàn)對局部放電的識(shí)別。由于這種方式受環(huán)境因素影響較大,且預(yù)埋在封閉設(shè)備內(nèi)部的傳感器目前技術(shù)尚未成熟,發(fā)生故障后維修難度大,因此可見光檢測法在實(shí)際應(yīng)用中較少。

同時(shí)試驗(yàn)證明隨著發(fā)生局部放電部位場強(qiáng)與其輻射出的紫外區(qū)域能量呈正相關(guān)。


(二)紫外線局部放電檢測原理:

紫外線的波長范圍為100-400nm,這個(gè)波長范圍與太陽光中的紫外線波長有交集,但地球表面被一層距離地面20km-50km的臭氧層包裹,臭氧層對日光中的紫外線有較強(qiáng)的吸收能力,透過臭氧層的吸收最終到達(dá)地球表面的紫外線波長都在280nm以上,低于280nm的紫外線波長范圍內(nèi)都較少受到日光的干擾,我們把低于280nm的紫外線區(qū)域稱為“日盲區(qū)”。因此在“日盲區(qū)”波長范圍內(nèi)對設(shè)備局部放電產(chǎn)生的紫外線進(jìn)行觀測可以取得較好的效果。

下圖為一般情況下紫外線成像系統(tǒng)的工作原理圖。設(shè)備接受到被測光源與背景光源的混合信號(hào)進(jìn)入光學(xué)處理設(shè)備,被紫外光束分離器分離成可見光和紫外線,前者經(jīng)過濾波和信號(hào)放大以后進(jìn)入可見光鏡頭,后者通過“日盲”濾鏡,濾掉日盲區(qū)以外的紫外線,并在紫外線感光元件上形成紫外圖像,之后經(jīng)過圖像處理系統(tǒng)將兩者疊加,就可在顯示屏上看到實(shí)時(shí)圖像與對應(yīng)的紫外線產(chǎn)生情況。


(三)紫外線局部放電檢測應(yīng)用范圍:

1. 絕緣子檢查:可對運(yùn)行中輸電線路絕緣子串(瓷質(zhì)絕緣子,復(fù)合絕緣子、玻璃絕緣子)、各類型設(shè)備引線套管的缺陷、劣化、表面污穢、反污涂料涂飾不合格等造成的表面放電進(jìn)行檢查。
2. 高壓、超高壓、特高壓輸電線路導(dǎo)線檢查:架空線路在架設(shè)過程中導(dǎo)線可能因?yàn)橥献?,張力放線甩尾,安裝金具過程中造成表面損傷、斷股、散股、毛刺、截面變形等缺陷,運(yùn)行過程中會(huì)發(fā)生較強(qiáng)電暈現(xiàn)象,用紫外線局部放電檢測設(shè)備可對故障點(diǎn)準(zhǔn)確定位。
3. 電氣設(shè)備外絕緣污穢程度檢查:電氣設(shè)備外絕緣積污到一定程度(沿海,高鹽,重工業(yè)區(qū)、礦煤等產(chǎn)區(qū)更嚴(yán)重),在一定濕度和外加電壓情況下會(huì)產(chǎn)生放電,通過紫外線局部放電檢測設(shè)備可間接的定性或非嚴(yán)格定量的檢測出電氣設(shè)備的積污程度和污穢分布狀況。
4. 電氣設(shè)備交接試驗(yàn):電氣設(shè)備進(jìn)行交接試驗(yàn)時(shí),可直觀的檢測出設(shè)備設(shè)計(jì)缺陷、制造工藝缺陷以及運(yùn)輸組裝過程中對設(shè)備表面造成的損傷,可有效避免“傷、病”設(shè)備投入運(yùn)行。

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