GIS內(nèi)部的典型絕緣缺陷大體上分為毛刺放電、懸浮放電、自由顆粒放電、毛刺放電、絕緣子表面污穢以及空穴放電。GIS殼體或?qū)w上的毛刺尖端通常由于加工、運(yùn)輸或安裝時(shí)的摩擦或碰撞形成的，其電場相對集中，超聲波脈沖信號50Hz相關(guān)性較100Hz相關(guān)性表現(xiàn)的更為明顯；電動力和機(jī)械力造成的零配件松動或接觸不良引起的懸浮放電發(fā)生在正負(fù)半周的電壓上升沿，因此100Hz相關(guān)性遠(yuǎn)大于50Hz相關(guān)性，脈沖信號比較穩(wěn)定，同時(shí)通常伴有機(jī)械振動；自由顆粒產(chǎn)生的超聲波信號大部分由顆粒與殼體撞擊產(chǎn)生的聲波脈沖組成；絕緣子表面的缺陷和內(nèi)部空穴會引起絕緣子沿面或內(nèi)部放電使絕緣子老化甚至發(fā)生閃絡(luò)，但超聲波局部放電檢測法對空穴放電并不靈敏。
   
在GIS帶電檢測時(shí)，若超聲波局部放電檢測法測到異常信號，正常情況下的判斷方法是與同一部位其他相或同一相其他部位的信號進(jìn)行對比，而對于毛刺放電、懸浮放電、自由顆粒以及機(jī)械振動等四類超聲波法靈敏的典型缺陷，則可以根據(jù)其典型放電圖譜進(jìn)行判斷。